一、超微微粉碎機(jī)簡介   

      超微粉碎機(jī)的粉碎細(xì)度普通都在500目以上，所以常用的粒度剖析辦法不能精確的丈量他的值，而粒度測試是經(jīng)過特定的儀器和辦法對粉體粒度特性停止表征的一項(xiàng)實(shí)驗(yàn)工作。粒度測試的辦法很多，具統(tǒng)計(jì)有上百種。目前常用的有沉降法、激光法、篩分法、圖像法和電阻法五種，另外還有幾種在特定行業(yè)和范疇中常用的測試辦法。

 二、粒度測試的根本辦法
        1、沉降法：
    沉降法是依據(jù)不同粒徑的顆粒在液體中的沉降速度不同丈量粒度散布的一種辦法。它的根本過程是把樣品放到某種液體中制成一定濃度的懸浮液，懸浮液中的顆粒在重力或向心力作用下將發(fā)作沉降。不同粒徑顆粒的沉降速度是不同的，大顆粒的沉降速度較快，小顆粒的沉降速度較慢。那么顆粒的沉降速度與粒徑有怎樣的數(shù)量關(guān)系，經(jīng)過什么方式反映顆粒的沉降速度呢？
    ①Stokes定律：在重力場中，懸浮在液體中的顆粒受重力、浮力和粘滯阻力的作用將發(fā)作運(yùn)動，這就是Stokes定律。
    從Stokes定律中我們看到，沉降速度與顆粒直徑的平方成正比。比方兩個粒徑比為1:10的顆粒，其沉降速度之比為1:100，就是說細(xì)顆粒的沉降速度要慢很多。為了加快細(xì)顆粒的沉降速度，縮短丈量時間，現(xiàn)代沉降儀大都引入離心沉降方式。
    這就是Stokes定律在離心狀態(tài)下的表達(dá)式。由于離心轉(zhuǎn)速都在數(shù)百轉(zhuǎn)以上，離心加速度ω2r遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于重力加速度g，Vc>>V，所以在粒徑相同的條件下，離心沉降的測試時間將大大縮短。
    ②比爾定律：
    如前所述，沉降法是依據(jù)顆粒的沉降速度來測試粒度散布的。但直接丈量顆粒的沉降速度是很艱難的。所以在實(shí)踐應(yīng)用過程中是經(jīng)過丈量不同時辰透過懸浮液光強(qiáng)的變化率來間接地反映顆粒的沉降速度的。那么光強(qiáng)的變化率與粒徑之間的關(guān)系又是怎樣的呢？比爾是律通知我們：設(shè)在T1、T2、T3、……Ti時辰測得一系列的光強(qiáng)值I1D2>D3>……>Di，將這些光強(qiáng)值和粒徑值代入式（5），再經(jīng)過計(jì)算機(jī)處置就能夠得到粒度散布了。
    2、激光法：
    激光法是依據(jù)激光映照到顆粒后，顆粒能使激光產(chǎn)生衍射或散射的現(xiàn)象來測試粒度散布的。由激光器的發(fā)作的激光，經(jīng)擴(kuò)束后成為一束直徑為10mm左右的平行光。在沒有顆粒的狀況下該平行光經(jīng)過富氏透鏡后會聚到后焦平面上。如下圖所示：
    當(dāng)經(jīng)過恰當(dāng)?shù)姆绞綄⒁欢�量的顆粒平均地放置到平行光束中時，平行光將發(fā)作散現(xiàn)象。一局部光將與光軸成一定角度向外傳播。如下圖：
    那么，散射現(xiàn)象與粒徑之間有什么關(guān)系呢？理論和實(shí)驗(yàn)都證明：大顆粒引發(fā)的散射光的角度小，顆粒越小，散光與軸之間的角度就越大。這些不同角度的散射光經(jīng)過富姓氏透鏡后在焦平面上將構(gòu)成一系列有不同半徑的光環(huán)，由這些光環(huán)組成的明暗交替的光斑稱為Airy斑。Airy斑中包含著豐厚粒度信息，簡單天文解就是半徑大的光環(huán)對應(yīng)著較小的粒徑；半徑小的光環(huán)對應(yīng)著較大的粒徑；不同半徑的光環(huán)光的強(qiáng)弱，包含該粒徑顆粒的數(shù)量信息。這樣我們在焦平面上放置一系列的光電接納器，將由不同粒徑顆粒散射的光信號轉(zhuǎn)換成電信號，并傳輸?shù)接?jì)算機(jī)中，經(jīng)過米氏散理論對這些信號停止數(shù)學(xué)處置，就能夠得到粒度散布了。
    3、篩分法：
    篩分法是一種最傳統(tǒng)的粒度測試辦法。它是使顆粒經(jīng)過不同尺寸的篩孔來測試粒度的。篩分法分干篩和濕篩兩種方式，能夠用單個篩子來控制單一粒徑顆粒的經(jīng)過率，也能夠用多個篩子疊加起來同時丈量多個粒徑顆粒的經(jīng)過率，并計(jì)算出百分?jǐn)?shù)。

篩分法有手工篩、振動篩、負(fù)壓篩、全自動篩等多種方式。顆粒能否經(jīng)過篩幾與顆粒的取向和篩分時間等素要素有關(guān)，不同的行業(yè)有各自的篩分辦法規(guī)范。
    4、電阻法：
    電阻法又叫庫爾特法，是由美國一個叫庫爾特的人創(chuàng)造的一種粒度測試辦法。這種辦法是依據(jù)顆粒在經(jīng)過一個小微孔的霎時，占領(lǐng)了小微孔中的局部空間而排開了小微孔中的導(dǎo)電液體，使小微孔兩端的電阻發(fā)作變化的原理測試粒度散布的。小孔兩端的電阻的大小與顆粒的體積成正比。當(dāng)不同大小的粒徑顆粒連續(xù)經(jīng)過小微孔時，小微孔的兩端將連續(xù)產(chǎn)生不同大小的電阻信號，經(jīng)過計(jì)算機(jī)對這些電阻信號停止處置就能夠得到粒度散布了。
    5、顯微圖象法：
    顯微圖象法包括顯微鏡、CCD攝像頭（或數(shù)碼像機(jī)）、圖形采集卡、計(jì)算機(jī)等局部組成。它的根本工作原理是將顯微鏡放大后的顆粒圖像經(jīng)過CCD攝像頭和圖形采集卡傳輸?shù)接?jì)算機(jī)中，由計(jì)算機(jī)對這些圖像停止邊緣辨認(rèn)等處置，計(jì)算出每個顆粒的投影面積，依據(jù)等效投影面積原理得出每個顆粒的粒徑，再統(tǒng)計(jì)出所設(shè)定的粒徑區(qū)間的顆粒的數(shù)量，就能夠得到粒度散布了。
    由于這種辦法單次所測到的顆粒個數(shù)較少，對同一個樣品能夠經(jīng)過改換視場的辦法停止屢次丈量來進(jìn)步測試結(jié)果的真實(shí)性。除了停止粒度測試之外，顯微圖象法還常用來察看和測試顆粒的形貌。